基于存储测试系统的子弹药发射过载研究

摘要

提出了一种基于C8051F064单片机的高g值存储测试系统的方法,在保证各部分测试功能的情况下,充分利用单片机丰富的片上资源,如A/D、存储器、串口等,从体积、功耗及抗过载能力上对系统进行了优化,具有体积小、功耗低、抗高过载、可靠性高等优点.在强装药的条件下,该存储测试系统完成了子弹药发射过载规律研究的测试.通过设置系统的工作参数,该存储测试系统也可用于子弹药抛撒及母弹整体侵彻目标靶板时各子弹药所受过载规律的研究.