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平板显示的关键光学性能及最新检测方案

摘要

随着平板显示技术的不断发展,显示屏的光学性能得到了大幅度提高,然而,传统的光学测量评价方法的局限性也逐渐暴露出来.本文将结合国内外显示的相关标准,分别从色域、均匀性以及Mura等关键指标出发,分析测量的要点,并介绍了最新的测量解决方案.近年来,光谱图像测量技术得到了长足发展,已经在显示领域得到了较好的应用,能够解决显示测量的诸多问题,本文也将作详细介绍.

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