首页> 中文会议>2016年全国无机硅化物行业年会暨创新发展研讨会 >二氧化硅表面硅羟基含量的测定方法

二氧化硅表面硅羟基含量的测定方法

摘要

二氧化硅表面存在有三种硅羟基,分别为孤立羟基、邻位羟基和偕羟基.二氧化硅表面硅羟基的含量与二氧化硅的吸附性能以及其表面性能有关,并直接影响着其应用如用作橡胶补强剂、药物传送和薄膜技术等.因此,定量测定二氧化硅表面硅羟基的含量具有十分重要的意义.本文介绍了近年来国内外二氧化硅表面硅羟基含量的测定方法,主要包括滴定法、同位素交换法等化学方法以及热重分析法、核磁分析法等物理方法.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号