基于AD9834的TSI校验仪设计

摘要

本系统设计采用单片机ADUC841作为主控芯片,基于DDS(Direct Digital Synthesizer)AD9834芯片,通过程序控制产生各种波形信号.外围电路有DAC、信号调理、功率放大电路等组成.在LCM功能显示界面的提示下,通过操作按键产生各种信号输出连接到TSI系统的传感器信号输入端,以实现TSI校验.校验仪设计功能丰富,人机界面友好,操作简便.所有参数全数字设定,关联参数自动调整,且系统存有多种标准模式下的参数,用户易于切换选用而不必担心复杂的参数设计.在校验过程中,关键参数可动态调整,以便于TSI系统的保护功能试验.应用此设计的TSI校验仪输出准确可靠,完全满足使用需求.