Force Touch信号量的相关性研究

摘要

根据电容基本公式C=εS/(4πkd)对几个可能的影响因子进行研究,而Force Touch模组形变能力决定了△d,从而影响△C,通过同样的力按压不同厚度的触控模组中心点确认得到各常用模组厚度的形变能力曲线.经过理论分析及实验测试,确认到当Air Gap设定值小于模组本身形变能力时,Air Gap越大信号量越大;而如果Air Gap设定值大于模组形变能力时,Air Gap越大信号量越小.也根据电容原理验证确认了介电常数的增加对信号量提升有帮助,且利用平板电容之间增加一层导体层可以提升电容这一理论也得到实验证实.这些理论与实验分析给基于电容原理的Force Touch模组设计提供了方向,最终实现最佳的用户体验以及终端客户需求.