不同微槽结构绝缘子真空沿面闪络特性

摘要

本文针对单极性脉冲电压下不同微槽结构绝缘子真空沿面闪络特性开展实验研究.根据二次电子运动特性,设计了多种微槽宽度,对比微槽结构和平面结构的绝缘子耐压特性差异.槽宽为1mm的样品耐压水平与平面结构样品耐压水平相当,槽宽小于1mm的样品组耐压水平均高于平面结构样品,最大电压提高倍数约1.4倍,说明微槽宽度在一定尺寸范围内才能提高绝缘子真空耐压水平,通过电场强度计算来分析微槽结构对二次电子运动的影响过程,不同槽宽影响电子运动的原理有所差异.通过显微镜观测各组样品表面特征,认为材料表面微观状态也将影响材料耐压水平.