ZSM-5/Silicalite-1核壳分子筛的热稳定性研究

摘要

通过热重-示差扫描量热-质谱(TG-DSC-MS)联用技术和XRD方法研究了ZSM-5／Silicalite-1核壳分子筛的热稳定性.结果表明,ZSM-5／Sillcalite-1核壳分子筛存在两个质量损失过程,在312～647K之间质量损失约为1.15％,在647～792K之间质量损失仅为0.12％,在1117K时骨架仍没有明显破坏,表明温度低于1117K时ZSM-5／Silicalite-1核壳分子筛是稳定的.采用DSC方法测试了ZSM-5／Silicalite-1核壳分子筛的比热容,用最小二乘法拟合曲线,获得比热容(Cp)的表达式为Cp=4×10-7T3-0.0002T2+0.0493T-2.3427(T为温度).