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基于虚拟仪器技术的半导体激光器质量检测系统

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本检测系统是采用NI的高性能数据采集卡PCI-6014,在MeasurementStudio平台上设计开发的,能在快速准确地测量半导体激光器的伏安特性曲线(V-I)、电导数曲线(IdV/dI)、光功率曲线(P-I)和光导数曲线(dP/dI)的基础上,通过数值分析,给出作为评价半导体激光器质量和可靠性重要依据的几个参数.

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来源
《2005年全国测控、计量、仪器仪表学术年会》|2005年|835-837|共3页
会议地点宜昌
作者
曹军胜; 郭树旭; 石家纬; 解澎; 梁庆成; 刘奎学;
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作者单位

中国电子学会;

中国仪器仪表学会;

中国计量测试学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类半导体激光器 ;
关键词
虚拟仪器; 半导体激光器; 质量检测; 电导数;

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