X射线荧光光谱法测定铬铁矿中的主次量组分

摘要

粉末压片法制样,选用标准样品,本文以经验α系数和散射线内标法校正元素谱线重叠干扰和基体效应,使用ZSX Primus Ⅱ X射线荧光光谱仪对多金属样品中、低含量的铜、铅、锌、硫、砷、钨、钼等元素进行测定,分析结果与标准值和化学值相吻合,12次测定的相对标准偏差小于10％.方法制样简单、准确快速.