基于LabView光强补偿控制系统的设计

摘要

在工业的控制系统中,光照强度的变化会成为影响光敏元器件工作特性的主要因素.本文是基于Labview软件平台设计一种光强度的测量系统,利用光敏二极管电路进行光照强度的测量和LM35D温度传感器进行温度的测量,将测量数据通过USB2009数据采集卡接口实现与上位机之间的数据传输.针对温度测试系统以及光照强度根据温度变化的关系,实现了温度与光照强度的相吻合的对应关系,进而完成光照强度的测量以及补偿.仿真结果表明系统可以根据外界条件的变化,通过温度调整和补偿,使光照强度维持在一个相对稳定的范围.

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