微弧氧化膜层在失效过程中的电化学演化特征

摘要

镁合金因其质轻、散热性好、强度高、电磁屏蔽性能优良等特点,在航空航天与机车制造行业中应用广泛.镁合金材料标准电极电位较负,因此极易发生腐蚀,这一特点严重制约了镁合金优质性能的发挥.微弧氧化技术是现阶段应用最广泛的镁合金表面处理技术,但膜层表面的孔隙缺陷成为诱发微弧氧化镁合金腐蚀的隐患.本文首先通过开路电位的监测，捕捉微弧氧化镁合金腐蚀过程中的特征点。然后利用微区扫描电化学技术，研究膜层表面的电化学状态演变。最后结合电化学阻抗谱技术，探究腐蚀介质在膜层中接触、渗入及传递过程中的电化学阻抗谱特征及相应电化学参数变化。