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袁慧宇; 周军; 欧阳佳佳; 盛兴; 孙小菡;
中国电子学会;
真空电子器件; 存储寿命; 加速寿命试验;
机译:通过多发色团方法延长Ru(II)配合物的发光寿命:激发态存储元素可以位于不参与MLCT发射态的配体上
机译:基于双参数方法的加压管蠕变裂纹增长寿命评估方法
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机译:基于加压的存储真空电子器件加速寿命测试方法
机译:对数正态响应分布与Arrhenius速率关系的加速降解测试的寿命预测和置信范围。
机译:氢自旋极化以长寿命13C2单峰态的存储及其对超极化MRI的影响
机译:基于样品测试结果确定乏核燃料存储衬里剩余寿命的方法
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机译:基于加速寿命测试数据的在现场操作条件下产生降解数据以预测剩余使用寿命的方法和装置
机译:基于参数化的专用集成电路(ASIC)/现场可编程门阵列(FPGA)基于存储器的三态内容可寻址存储器(TCAM)的方法
机译:用于基于参数的专用集成电路(ASIC)/现场可编程门阵列(FPGA)基于存储器的三态内容可寻址存储器(TCAM)的方法
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