工业钼靶X射线参考辐射质的建立

摘要

目的：建立4个CCRI推荐的钼靶X射线参考辐射质,得到的实验数据,参与国际计量局组织的乳腺癌X射线空气比释动能国际比关键比对项目(BIPM.RI(I)-K7).建立钼靶X射线基准,填补国内空白,解决乳腺癌X射线诊断设备的量值溯源问题. 方法：使用经BIPM刻度过的RC6M平板型电离室,连接小电流测量系统,根据钼靶X射线规范,测得X射线经过不同厚度的衰减片后的电离电流值.然后利用origin作图软件对实验数据进行E指数拟合,得到各个规范的衰减曲线,插值法得到不同辐射质的半值层,并计算同质系数.根据质量衰减系数u/p和半值层的关系求得质量衰减系数,然后分段拟合得到NIST数据库中质量衰减系数和有效能量的曲线图,插值法得到各规范的有效能量. 结果：半值层测量结果与国际计量局BIPM参考值的相对偏差在1％以内,最大为0.82％,最小为0.32％,吻合较好,可以认为X射线辐射质基本相同. 结论：为建立乳腺X射线国家基准,开展国际比对和量值传递奠定了基础.