一种引导ATPG的广义折叠技术的测试数据压缩方法

摘要

针对芯片测试过程中自动测试设备需要传输大量测试数据到被测芯片,浪费了大量的测试数据传输时间的问题,提出一种引导ATPG的广义折叠技术,该技术可以计算出准确的影响范围,能够真实反映出一根信号线在确定值情况下需要有确定值的那部分的原始输入,可以有选择性的调整原始输入.这样在测试生成就考虑广义折叠技术,使生成的测试向量可以直接嵌入到广义折叠集中,提高了压缩效果.对ISCAS89标准电路硬故障集和Mintest故障集实验结果均验证了其有效性.