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用X荧光光谱仪测试化学强化玻璃原片成分方法探究

摘要

对0.5mm和0.7mm厚的高铝硅酸盐强化玻璃进行刻蚀减薄,采用X荧光光谱仪测试其成分.经研究Na2O和K2O含量的变化情况,并与强化前原片玻璃的成分进行对比,得出强化玻璃刻蚀后化学稳定时和原片玻璃成分相同.

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