基于模糊聚类双谱的磁瓦内部缺陷无损检测方法

摘要

为解决磁瓦内部缺陷人工检测存在的问题,提出一种模糊聚类双谱分析方法用于其内部缺陷的无损检测.该方法以磁瓦在受到撞击时产生的声振信号作为研究对象.利用双谱分析发现内部缺陷与双谱峰值的分布区域具有映射关系,并且模糊聚类处理后的归一化双谱能明显地反映这一特征.根据这个规律,将模糊聚类双谱的对角线切片划分为若干频段,通过计算切片指定幅值所在的频段建立识别规则.最后由验证实验评估方法的可行性,得到了92.5％以上的识别精度.实验表明模糊聚类双谱在磁瓦内部缺陷声振检测中具有一定实用性.