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缺陷深度、尺寸与底片黑度关系的试验

摘要

X射线对比试块是一种经过X射线透照,用来模拟相同材料下零件状态信息的试块.通过对比试块的整体形态以及按常见缺陷制作的人工孔洞类缺陷,根据底片黑度概念,绘制参考曲线,归纳分析得出零件变截面状态下的厚度数据以及内部缺陷在零件中的位置和缺陷大小的定位方法.

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