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一种用于相控阵失效单元诊断的相控阵天线分析

摘要

相控阵的失效单元的诊断受到研究者的广泛关注.本文分析并仿真了一种具备低副瓣电平,低交叉极化的相控阵天线.该天线可以采用时间调制,从而灵活地控制相控阵的工作状态,为阵列诊断的研究提供实验数据.

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