电磁阵列旋转扫描定量检测复杂导电结构多裂纹的理论研究

摘要

近十年来,在导电结构缺陷评价方面,国内外研究主要集中在单裂纹的检测与形状重构,对阵列探头有较多研究,对旋转探头及多裂纹检测方面也有一些研究,但电磁阵列旋转扫描探头在导体多裂纹缺陷评价方面的相关研究还不多见,而实际导体中的裂纹往往聚集生成裂纹群,使得传统方法难以对其精确检测和定量.本项目基于电磁阵列旋转扫描方式,研究复杂导体内外表面埋藏多裂纹的无损检测与定量评价问题,为提出具有实用价值的导体多裂纹检测正向模型与形状反演算法提供理论与方法指导.