石墨在无机酸中电化学插、脱层的可逆性

摘要

该文对ＨＯＰＧ经过Ｈ〈，２〉ＳＯ〈，４〉、ＨＮＯ〈，３〉和ＨＣｌＯ〈，４〉插、脱层后的石墨残余层间化合物（ＲＧＩＣ）进行了ＳＥＭ和ＸＲＤ的分析。实验表明，随着无机酸插、脱层次数的增多ＨＰＯＧ的层状结构将完全破坏。