气敏元件参数智能测试系统的研制

摘要

气敏元件参数智能测试系统是以α-F<,e2>O<,3>及S<,n>O<,2>、Z<,2>O半导体气敏元件测试对象，采用上、下位机联机工作，整套测试系统由试验箱（含注气装置）、控制箱（下位机）、PC机（上位机）及打印机共三部分组成。试验箱按需要构造一个气体环境，下位机以单片机为核心，高速对100路元件采样，并将数据存入RAM中，通过通讯口将数据输入上位机的数据处理软件，按中文菜单所列的功能进行数据处理，并打印数据处理结果。