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精确测量质子束流强度的同轴法拉第探测器

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二次电子发射使得法拉第探测器测量高能带电粒子强度的结果产生较大偏差, 本文提出采用二次电子补偿技术设计同轴法拉第探测器,实现质子束流强度的精确测量.介绍了探测器补偿二次电子的工作原理.实验测量结果表明,该探测器测量能量2.5～10MeV质子束流强度的结果与标准法拉第杯测量结果在5％以内吻合,可以克服二次电子发射对质子束流强度测量的影响.

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来源
《第十七届全国核电子学与核探测技术学术年会暨核电子学与核探测技术分会第八次全国会员代表大会》|2014年|320-322|共3页
会议地点兰州
作者
张忠兵; 陈亮; 刘金良; 张显鹏; 阮金陆; 欧阳晓平;
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作者单位

中国电子学会;

中国核学会核电子学与核探测技术分会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TL816.9;
关键词
质子束流; 同轴法拉第探测器; 强度测量; 二次电子发射技术;
入库时间 2022-08-17 10:31:47

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