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全电波暗室空间损耗测量方法研究

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本文对全电波暗室空间损耗的测量过程进行全面描述,此中对一些现象和影响进行分析做出总结.在此基础上给出更科学可行的空间损耗测量的操作过程.本文的试验数据是在全电波暗室中测量得到的,但该过程的方法可推广到半电波暗室中去.

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来源
《第十二届全国电磁兼容学术会议》|2002年|268-272|共5页
会议地点天津
作者
苑克龙; 李盛; 陶洪波; 高攸纲;
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作者单位

中国电子学会;

中国通信学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类结构;天线;
关键词
电磁兼容; EMI测试; 全电波暗室; 空间损耗; 天线增益; 电缆损耗; 骚扰测量仪;

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