古陶瓷有损和无损分析数据间关系的初步研究

摘要

中子活化(NAA)和电感耦合等离子质谱(ICP-MS)适用于有损即取样分析,同步辐射X射线荧光(XRXRF)、源激发X荧光(XRF)和质子激发X荧光(PIXE)具备无锅和有损分析功能.这些核分析技术已分别用于古陶瓷的研究,目前,解决不同分析方法间实验数据的可比性,研究取样分析数据应用到完整器物无损分析的方法学,实现无损定量分析是核分析技术在古陶瓷研究领域能否发挥作用的关键问题.本文作者对NAA和SRXRF分析数据间的可比性进行了初步研究.