利用射线数字成像实现缺陷定位检测

摘要

本文以视差法为基本研究方法，采用射线数字成像方式，通过在构件上有效设置标志点，并且由两次成像对缺陷进行定位，给出了构件移动、射线源不动的缺陷深度定位方法。但由于射线源焦点尺寸、几何测量误差等影响，使得检测精度较低。本文采用了测量数据校正方法，使得缺陷定位精度大为提高。最后，用实例给出了具体应用。