X射线荧光光谱测定锡精矿及渣中锡和钽

摘要

介绍了应用X射线荧光光谱薄试样法测定锡精矿及其熔炼锡后熔渣中锡和钽.人工合成标准试样,检测范围(质量分数)分别为:ω(Sn)0.20﹪~50.00﹪,ω(Ta<,2>O<,5>)0.02﹪~10.20﹪.