首页> 中文会议>2003年内蒙古自治区自然科学学术年会 >利用足迹磨损特征在检验平面和立体足迹中的应用

利用足迹磨损特征在检验平面和立体足迹中的应用

摘要

本文作者经过多年来对近百起案件的检验,鉴定了"足迹磨损特征检验"项目,并且提出了解决问题的一些思路.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号