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考虑串扰影响的时延测试

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超深亚微米工艺下,串扰的出现会导致在电路设计验证、测试阶段出现严重的问题.本文介绍了一个基于波形敏化的串扰时延故障测试生成算法.该算法以临界通路上的串扰时延故障为目标故障进行测试产生,大大提高了算法的效率.实验表明,以该算法实现的系统可以在一个可接受的时间内,对一定规模的电路的串扰时延故障进行测试产生.

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来源
《第十届全国容错计算机学术会议》|2003年|194-199|共6页
会议地点北京
作者
张月; 李华伟; 宫云战; 李晓维;
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作者单位

中国计算机学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试和检验;
关键词
串扰; 时延测试; 波形敏化; 临界通路; 集成电路; 测试生成算法;
入库时间 2022-08-17 11:06:46

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