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ICP-AES法测定锡锭中的杂质元素

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本文运用ICP-AES法测定锡锭中的As,Bi,Sb,Fe,Cu,Pb等杂质元素,并探讨了锡锭的溶样方法及基体元素的干扰.试验结果表明采用基体匹配法能消除干扰,能准确、快速地测定锡锭中的杂质元素,满足日常生产的需求.

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来源
《第十四届全国光谱仪器与分析监测学术研讨会》|2004年|40-42|共3页
会议地点上海
作者
卢文琪; 刘成花; 杨芸;
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作者单位

中国仪器仪表学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类光化学分析法（光谱分析法）;锡;
关键词
ICP-AES; 锡锭; 杂质;
入库时间 2022-08-17 11:03:35

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