奈米粉體粒徑量測技術探討-2005年亞太地區奈米粉體粒徑量測技術能力試驗

摘要

国内外学术与研究机构积极投入奈米粉体的制造技术,以满足日後工业发展的需求。但是在奈米粉体的制造过程中其颗粒大小及尺寸分布很难掌控,并且因为奈米粉体其量测时变异量非常大。例如粉体颗粒并非圆形时,因为尺寸的计算参数不同,量测结果便会不同。另外,使用检测设备的量测原理及分析软体不同,所得到的量测结果也会不同。所以,奈米粒径尺寸的量测与标准追溯已经变成目前面临的重要研究课题。因此,为了解不同量测实验室及量测仪器的量测变异量及差异性,在亚太经合会工业技术小组(APEC ISTWG)的支持下,完成奈米粉体粒径的能力实验。共有六经济体八个实验室参与,量测仪器包括SPM,DLS,DMA,TEM,和SEM。能力试验结果除了显示各仪器量测的特性外,也比较了参加实验室的量测能力。