交联聚乙烯电缆料杂质高速扫描形貌测量技术研究

摘要

本文针对高压交联聚乙烯电缆绝缘料纯净度检测的问题,研制了高速扫描形貌测量系统。系统采用现场可编程门阵列(FPGA)芯片控制高速A/D采集CCD数据,根据动态阈值提取杂质数据并进行封装处理,然后通过USB2.0总线传输至上位机进行分析、记录和杂质形貌重建.实验表明,此系统测量实时准确,杂质形貌恢复完好。适用于交联聚乙烯电缆绝缘料的杂质检测。