首页> 中文会议>第十五届全国半导体集成电路、硅材料学术会议 >开关电容S/H电路电荷共享效应的建模和优化

开关电容S/H电路电荷共享效应的建模和优化

摘要

针对开关电容采样/保持(S/H)电路中由负载电容记忆效应引起的电荷共享问题进行了建模,获得电荷共享效应会导致运放建立幅度增加,并根据所推导的运放建立总公式,得出建立幅度增加会进而增大对运放功耗和带宽要求或者降低建立速度。为改善该现象,基于预充电思想和双采样技术提出了一种优化方案,它能在保持原S/H电路速度不变时消除电荷共享效应对运放功耗和带宽的额外要求,仿真实现的12位100Msps双采样/保持电路证明了其有效性。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号