内嵌金属富勒烯Y@C82的同步辐射XAFS研究

摘要

内嵌金属富勒烯以其独特的电子结构与几何结构预示其在电子、光电子以及医疗领域有重大的应用前景而受到研究者格外的关注。本文测定和拟合在低温(25K)和室温(300K)下Y@C82的XAFS谱,可以得到Y@C82中的Y的最近邻和次近邻配位壳层的结构参数,还可以得知Y-C两个壳层的配位距离基本没有随温度变化,Y@C82的两个壳层的原子分布即使在低温下也存在比较大的无序。