超声相控阵信号采集与B型成像处理

摘要

利用单路设备实现多路相控功能的方法,对标准试块进行无损探伤实验。根据回波信号到达时间与聚焦点位置之间的相互关系,A扫利用信号特征进行B型成像,提出了阈值法图像二值化处理方法来提高缺陷图像分辨力。MATLAB仿真结果显示,该方法不仅提高了图像的横向分辨力,而且提高了缺陷定位的准确性。