纯铜单晶、双晶和多晶的内耗温度谱

摘要

本实验利用Bridgman方法生长出三个[001]转轴不同取向差的纯铜双晶,在多功能内耗仪上采用强迫振动方法,从室温到0.8TM范围内对比测量了纯铜单晶、双晶和多晶试样的内耗温度谱.结果表明,真正的纯铜单晶中没有内耗峰出现.在升降温测量过程中,单、双晶试样棱角处非常容易生成新的小晶粒,从而在内耗曲线上产生微弱的内耗峰.这进一步证明了多晶中出现的内耗峰是大量不同类型晶界内耗峰的叠加.小角度晶界双晶和大角度晶界双晶的弛豫参量存在明显差别,这种差别是晶界微观结构的差异引起的,但其内耗峰的基本机制都可归因于晶界原子的扩散.