电子元器件快速评价新方法的应用研究

摘要

本文提出了电子元器件一种新的快速评价方法(CETRM),具有快速、准确、成本低、效率高等优点.能快速准确地确定元器件退化的失效敏感参数、退化机理；可对单样品求出与失效机理相应的失效激活能和寿命；通过多样品试验,可得到寿命分布、寿命加速特性和失效率等可靠性参数.以高频小功率管3DG130样品为例,通过验证实验和与现场数据对比,证明了新方法的正确和有效.本方法特别适用于失效率优于10-7/h(λ<10-7/h)产品的可靠性定量评价,其试验周期为传统方法的1/8.