首页> 中文会议>2009第八届中国国际纳米科技(湘潭)研讨会 >利用SAXS研究无机纳米杂化PI膜的纳米颗粒特性

利用SAXS研究无机纳米杂化PI膜的纳米颗粒特性

摘要

聚酰亚胺具有优异的耐热性、耐辐射性、耐电晕性,良好的电绝缘性和力学性能,广泛应用 于航空、电子、机械等多个领域,在聚酰亚胺中掺入无机纳米颗粒会使其性能更进一步优化。本文采用溶胶-凝胶工艺制备了无机纳米杂化聚酰亚胺薄膜(PI/Al2O3),利用同步辐射小角X-射线散射(SASX)方法及相应理论,原位研究杂化薄膜中纳米颗粒特性。研究结果表明:PI/Al2O3薄膜中含有回转半径为16.3nm的三氧化二铝的纳米颗粒,薄膜具有质量分形特性,分形维数1.81,纳米颗粒与基体之间存在厚度为3.21nm过渡层。

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