纳米级孔隙结构以及成像分析进展

摘要

为了了解页岩的密封和存储能力,孔结构和体积以及流量通路矿物质成份是了解页岩的重点,页岩孔隙的纳米级以及亚微米级的孔隙特征决定了传统的常规储层孔隙表征方法并不能完全符合.本报告探讨了可应用于页岩获得关于结构数据的各种成像技术,多孔性,透气性,主成份,微量元素分析手段.本文所探讨的三维成像分析手段包括使用:双束聚焦离子电镜(FIB-SEM),离子束电镜(Ion Mill-SEM),透射电子显微镜(TEM),纳米X射线断层扫描(Nano-CT),能谱(EDX),背散射衍射(EBSD),飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS).这些分析手段的成像分辨率从纳米到微米之间,元素检测灵敏度从千分之一到百万分之一.通过结合三维成像技术,可以重现样品的纳米结构和变化,分析数据对页岩储层储能和产能评估起到重要作用.