薄层AVO分析技术

摘要

Zoeppritz方程可计算单层界面情况下,纵、横波反射系数随入射角或偏移距变化的情况,但是对于薄层介质,由于薄层顶底界面的干涉,很难直接定量的描述出不同厚度对振幅的影响.而常规薄层预测方法通常是以楔状模型为基础,定性预测薄层的厚度.本文以多层介质的位移和应力方程为基础,通过理论推导,得出了三层介质的反射系数定量计算公式,可以通过公式定量的计算出不同薄层厚度随入射角或偏移距变化时振幅的变化情况,建立起了不同薄层厚度时振幅与入射角的关系,为进一步定量预测薄层厚度及薄层流体的预测奠定理论基础.