首页> 中文会议>第十三届全国光学测试学术讨论会 >溯源至低温辐射计的辐亮度探测器绝对响应度定标

溯源至低温辐射计的辐亮度探测器绝对响应度定标

摘要

辐亮度探测器是一种基于陷阱结构的绝对光谱辐亮度测量装置。其核心探测部件为三片反射式硅陷阱探测器,其绝对光辐射功率响应率可溯源于绝对低温辐射计,辅以用于限制光学几何因子的精密光阑(视场光阑、孔径光阑)即可测量不同辐射源的绝对辐亮度,若加入分光装置(如滤光片),可实现不同波段内的绝对辐亮度测量。基于陷阱探测器的辐亮度探测器具有绝对精度高、性能稳定等优点,可应用于各种均匀面光源(例如积分球、漫射板、校正场等)辐亮度的绝对测量,也可用于光谱辐射计、分光谱成像仪器等的响应度校准。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号