微波电路在强雷电辐射下的二次耦合效应的仿真研究

摘要

在强雷电辐射环境下，即使是经过防雷设计的电子系统也可能通过信号线、天线馈电、地下线缆等导体耦合较大的雷电电磁能量。而且由于上述导体的天线效应，可能再次构成强功率辐射源，进一步对电子系统内部组件造成二次有害耦合。论文假设某金属腔内微波电路已耦合较大的雷电电磁能量，以其中一部分微带电路为例，运用时域有限差分法对电路中的雷电电磁能量二次耦合现象进行了模拟，结果证实了二次耦合现象的存在。