基于“失效模式-失效机理-分析模型”的电子产品可靠性分析案例

摘要

电子产品可靠性分析、评价的重点在于确定其高风险环节，一般采用FMEA等失效模式分析的形式，对失效机理的考量较少。本文从“元器件-失效模式-失效机理-影响因素”这一分析路径出发，利用一个电子产品案例，实现利用这一关联形式确定高风险环节和分析可靠性的全过程。