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一种基于光栅多级衍射同步干涉实现多分辨率、多自由度干涉测量的系统及方法

摘要

本发明公开了一种基于光栅多级衍射同步干涉实现多分辨率、多自由度干涉测量的系统及方法。创造性的提出了一种集成屏替代通常云纹干涉测量中的读数栅,实现了多级次衍射光的干涉实现和利用(限于激光功率较低、读数光栅固定的衍射角度限制,利用超过正负1级衍射光线进行干涉测量的情况较少),尤其有利于亚纳米级测量,因为,对于纳米级、亚纳米级精度测量时其稳定性往往不好,以不同的灵敏度(利用多级衍射光进行干涉测量)、多次同步复测综合判断尤为重要;另一方面,最近几年激光器制作技术有了很大发展,利用高级次衍射光进行干涉测量逐渐成为可能。

著录项

  • 公开/公告号CN105716529A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-06-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉大学;

    申请/专利号CN201610078959.6

  • 发明设计人 戴宜全;桂成群;刘胜;雷金;

    申请日2016-02-04

  • 分类号G01B11/02;G01P3/36;

  • 代理机构武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人赵丽影

  • 地址 430072 湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学

  • 入库时间 2023-12-18 15:41:19

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-02

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01B11/02 申请公布日:20160629 申请日:20160204

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2016-07-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/02 申请日:20160204

    实质审查的生效

  • 2016-06-29

    公开

    公开

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