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共聚焦三维测量装置及其多孔径尼普科夫圆盘

摘要

本发明涉及一种共聚焦三维测量装置及其多孔径尼普科夫圆盘,由于在多孔径尼普科夫圆盘上至少设有一个环形的扫描带,不同的扫描带中的透过孔的直径不同,这样,就可以根据显微物镜的放大倍率而选择具有合适直径的透光孔的扫描带来过滤和聚焦光线,从而使得合适直径的透光孔处于工作状态,使得测量装置的分辨力和精度指标达到最优状态。由此可见,本发明的一种共聚焦三维测量装置中的多孔径尼普科夫圆盘能够提高测量分辨力和精度。

著录项

  • 公开/公告号CN109375355A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-02-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海市计量测试技术研究院;

    申请/专利号CN201811221733.2

  • 申请日2018-10-19

  • 分类号

  • 代理机构上海光华专利事务所(普通合伙);

  • 代理人韩双宏

  • 地址 200040 上海市静安区长乐路1226号

  • 入库时间 2024-02-19 06:57:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02B21/00 申请日:20181019

    实质审查的生效

  • 2019-02-22

    公开

    公开

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