...
机译:绝缘子技术研究和降低28 nm全耗尽硅的变异性
FDSOI; Variability; Monte Carlo; Back-Gate; Auto-Biasing; Complementary Symmetric Gate;
机译:绝缘子技术研究和降低28 nm全耗尽硅的变异性
机译:绝缘体器件CMOS上的完全耗尽硅:28 nm节点是用于模拟,RF,mmW和混合信号片上系统集成的完美技术
机译:平面全耗尽型绝缘体上硅技术:朝着28 nm节点发展
机译:基于全耗尽硅 - 孤立于绝缘技术的28-14nm节点开发的高级TEM表征
机译:带隙电压参考电路部分耗尽的硅 - 绝缘体CMOS技术
机译:FinFET和带铁电电容器的全耗尽绝缘体上硅(FDSOI)MOSFET的磁滞窗口研究
机译:采用250nm绝缘体上硅技术设计载流子耗尽mach-Zehnder调制器