首页> 中文期刊> 《电子技术与软件工程》 >一种基于IP的集中检查器自动产生方法

一种基于IP的集中检查器自动产生方法

         

摘要

本文介绍了系统芯片开发中一种基于IP的集中检查器自动产生方法和具体实现流程。片上系统(SoC-System On Chip)是一种高性能、低功耗、低成本的芯片设计方法。而为了提升了产品的竞争力,各类丰富的IP(Intellectual property)都被集成到SoC中,这给验证工作带来了巨大挑战。笔者从实际验证工作出发,使用该方法简化了验证工作,提高了工作的质量和效率。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号