X射线荧光光谱分析

摘要： 化学镀镍金(ENIG)是印制电路板(PCB)制作过程中较为常见的表面处理方式,金缸中金浓度的稳定性为关键控制参数和指标,从而能严格控制产品镀金厚度,达到稳定生产品质并降低生产成本的目的。文章介绍X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence,XRF)在测定PCB化学镀金工序金缸中镍金含量的应用。

摘要： 中国X射线光谱分析已经历了60年的发展历程,相关技术文献数量已过万。直至2019年才有“基于CNKI的X射线荧光光谱研究文献计量学分析”一文和《中国X射线荧光光谱分析文献索引》一书的发表与出版。以这两篇文献为基础说明中国X射线荧光光谱文献的类型、文献源及检索收集,简介了这两篇文献的成果要点,评介中国X射线荧光光谱文献统计计量研究的主要成果。主要包括:文献总数和英文文献的年度分布;期刊文献总数和英文文献的专题分布及其专题文献的年度分布;作者的文献总量、第一作者文献量、英文文献总量和英文第一作者文献量的总体分布;1960年—1989年、1960年—1999年、1960年—2015年三个时段内文献量较多作者的文献总数和第一作者文献数;文献总数≥40篇且第1作者文献≥15篇作者(16位)的文献总数、第一作者文献数、英文文献总数、英文第一作者文献数和其文献的主要专题、专业领域;论文数量前10名的机构和总被引频次前10名的文献;期刊文献的期刊总体分布和文献量前10的期刊;专(译)著及其出版社分布。最后讨论了该两文献计量学研究现存的缺憾和对X射线光谱专业技术人员参与文献计量学研究的期盼。

摘要： 研究便携式X射线荧光光谱分析(XRF)对铜矿粉末中不同含量铜元素和硫元素进行快速测定的应用,系统地分析了XRF分析结果与实验室化学分析结果的差异性和相关性。结果表示,XRF可用于快速测定铜矿地质样品,铜元素测定具有良好的准确度;两组数据相关性高达90%,且线性回归模型拟合度高;经线性回归方程对XRF分析结果进行修正后,能有效减少2种方法带来的系统误差;硫元素测定的合格率低,但两组数据相关性均大于80%,且线性回归模型拟合度较高,经线性回归方程对XRF分析结果进行修正后,合格率满足规范要求。因此XRF分析在矿山生产过程中可以提供准确的测试数据。

摘要： 高明古椰贝丘遗址是2006年发掘的新石器时代晚期遗址,出土了大量的陶器。利用手持式X荧光光谱仪对157个陶片样品进行了元素成分分析。通过对微量元素结果的降维处理,分析陶片的原料产地信息,发现除了一期泥质陶和四期夹砂陶以外,大多数陶片制陶原料来源基本相同。从主次量元素含量分析,样品制陶所用原料为普通易熔粘土。褐红陶相较其他陶色样品有较高的铝、铁含量,而硅含量较少。泥质陶中硅和钛的含量高于夹砂陶。四期夹砂陶助溶剂含量较高,其他样品的助溶剂含量相接近。泥料淘洗工艺可能随分期有所改进。夹砂陶在制作过程中可能加入了草木灰或动物骨骼。陶器去除杂质的工艺在四个分期中没有改进。

摘要： 按照YB/T 5217-2019《萤石》标准中萤石精矿对各种元素的技术要求,研制了萤石精矿系列标准样品,该系列标准样品各成分含量成梯度分布,覆盖市场对萤石精矿的分析需求。委托多家行业内权威实验室进行分析,确定了6种化学成分的标准值和不确定度,并对As含量进行了定值。实验表明,萤石精矿系列标准样品的均匀性、稳定性及线性关系良好,可用于化学分析的质量控制、测量方法的评价和人员比对,填补了X射线荧光光谱分析用萤石系列标准样品的空白。

摘要： 文章以钢铁企业为例,对X射线荧光光谱分析技术在质量检测中的具体应用进行具体说明,深入探讨不同品种材料检测、设备选择、定量分析,准确了解X射线荧光光谱分析技术的作用优势,旨在加强质量检测结果的准确性.

摘要： 分析了某些富锌底漆按照HG/T 3668-2009《富锌底漆》中的化学分析法和差示扫描量热分析法检测“不挥发分中金属锌含量”结果差异的原因,说明了用差示扫描量热分析法验证化学分析法检测结果的必要性,并提出了鉴定富锌底漆不挥发分中是否存在干扰检测结果的成分的方法.

摘要： 信阳市城阳城遗址保护区是重要的春秋战国墓葬群所在地,2005年该区九号墓出土完整的铜编钟一套.文章通过科学技术手段对铜编钟研究与分析,试图弄清文物自身劣化原因,探讨如何有效保护文物本身并最大程度保留其历史、科学、艺术价值,使其更好地为社会大众教育服务.

摘要： 本论文以某矿床提供的矿样为研究对象,采用X射线荧光光谱分析和偏光显微镜对矿石进行了工艺矿物学研究,对其原矿的化学组成及形貌进行分析,通过选矿工艺矿物学研究,提出了相应的选矿工艺,为进一步推动资源开发与利用提供基础依据.

摘要： 根据中信所“2019年中国科技论文统计结果发布会”结果,《冶金分析》有4篇稿件入选领跑者5000—中国精品科技期刊顶尖学术论文。入选2019年度F5000论文的信息如下。1.论文标题:X射线荧光光谱分析熔融法制样的系统研究;文献来源:冶金分析,2015,35(7):1-9;作者:李国会,李小莉;机构:中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所,天津地质矿产研究所。

摘要： 福建紫金山铜矿床属高硫浅成中低温热液矿床,矿石中主要含铜矿物为蓝辉铜矿、铜蓝和硫砷铜矿等,且铜矿物与黄铁矿密切共生.由于铜矿石中硫含量较高,导致铜精矿中硫含量超标,w(S)/w(Cu)比值为2.0～2.1,远高于冶炼要求的1.15～1.20,影响其经济价值.使用X射线荧光(XRF)光谱分析对紫金山铜矿中S元素的分布进行数字化研究,查明硫的空间分布规律和赋存状态,划分铜矿石类型,为紫金山铜矿今后的采选工作提供参考.

摘要： 福建紫金山铜矿床属高硫浅成中低温热液矿床,矿石中主要含铜矿物为蓝辉铜矿、铜蓝和硫砷铜矿等,且铜矿物与黄铁矿密切共生.由于铜矿石中硫含量较高,导致铜精矿中硫含量超标,w(S)/w(Cu)比值为2.0～2.1,远高于冶炼要求的1.15～1.20,影响其经济价值.使用X射线荧光(XRF)光谱分析对紫金山铜矿中S元素的分布进行数字化研究,查明硫的空间分布规律和赋存状态,划分铜矿石类型,为紫金山铜矿今后的采选工作提供参考.

摘要： 福建紫金山铜矿床属高硫浅成中低温热液矿床,矿石中主要含铜矿物为蓝辉铜矿、铜蓝和硫砷铜矿等,且铜矿物与黄铁矿密切共生.由于铜矿石中硫含量较高,导致铜精矿中硫含量超标,w(S)/w(Cu)比值为2.0～2.1,远高于冶炼要求的1.15～1.20,影响其经济价值.使用X射线荧光(XRF)光谱分析对紫金山铜矿中S元素的分布进行数字化研究,查明硫的空间分布规律和赋存状态,划分铜矿石类型,为紫金山铜矿今后的采选工作提供参考.

摘要： 福建紫金山铜矿床属高硫浅成中低温热液矿床,矿石中主要含铜矿物为蓝辉铜矿、铜蓝和硫砷铜矿等,且铜矿物与黄铁矿密切共生.由于铜矿石中硫含量较高,导致铜精矿中硫含量超标,w(S)/w(Cu)比值为2.0～2.1,远高于冶炼要求的1.15～1.20,影响其经济价值.使用X射线荧光(XRF)光谱分析对紫金山铜矿中S元素的分布进行数字化研究,查明硫的空间分布规律和赋存状态,划分铜矿石类型,为紫金山铜矿今后的采选工作提供参考.

摘要： 本文探讨了一水铝土矿与三水铝土矿烧失量的差异在X-射线荧光光谱分析中造成的影响.采用试验的方式考察了硼酸锂熔融制样过程中铝土矿的烧失量损失情况,试验表明在熔融过程中,烧失量越大的样品质量的损失也越多.运用理论计算分析了烧失量的损失对测量结果的影响,结果表明:当采用一水铝土矿绘制工作曲线来测量三水铝土矿样品时,将导致三水铝土矿中各组分测量结果偏高;烧失量的差异对主量元素测量结果影响较大,而对微量元素测量结果影响较小;待测物质的烧失量与基准物质烧失量差异越大,测量结果的偏差也就越大.

摘要： 本文探讨了一水铝土矿与三水铝土矿烧失量的差异在X-射线荧光光谱分析中造成的影响.采用试验的方式考察了硼酸锂熔融制样过程中铝土矿的烧失量损失情况,试验表明在熔融过程中,烧失量越大的样品质量的损失也越多.运用理论计算分析了烧失量的损失对测量结果的影响,结果表明:当采用一水铝土矿绘制工作曲线来测量三水铝土矿样品时,将导致三水铝土矿中各组分测量结果偏高;烧失量的差异对主量元素测量结果影响较大,而对微量元素测量结果影响较小;待测物质的烧失量与基准物质烧失量差异越大,测量结果的偏差也就越大.

摘要： 本文探讨了一水铝土矿与三水铝土矿烧失量的差异在X-射线荧光光谱分析中造成的影响.采用试验的方式考察了硼酸锂熔融制样过程中铝土矿的烧失量损失情况,试验表明在熔融过程中,烧失量越大的样品质量的损失也越多.运用理论计算分析了烧失量的损失对测量结果的影响,结果表明:当采用一水铝土矿绘制工作曲线来测量三水铝土矿样品时,将导致三水铝土矿中各组分测量结果偏高;烧失量的差异对主量元素测量结果影响较大,而对微量元素测量结果影响较小;待测物质的烧失量与基准物质烧失量差异越大,测量结果的偏差也就越大.

摘要： 本文探讨了一水铝土矿与三水铝土矿烧失量的差异在X-射线荧光光谱分析中造成的影响.采用试验的方式考察了硼酸锂熔融制样过程中铝土矿的烧失量损失情况,试验表明在熔融过程中,烧失量越大的样品质量的损失也越多.运用理论计算分析了烧失量的损失对测量结果的影响,结果表明:当采用一水铝土矿绘制工作曲线来测量三水铝土矿样品时,将导致三水铝土矿中各组分测量结果偏高;烧失量的差异对主量元素测量结果影响较大,而对微量元素测量结果影响较小;待测物质的烧失量与基准物质烧失量差异越大,测量结果的偏差也就越大.

摘要： 继无铅制程后,无卤素绿色电子产业受到电子行业广泛关注.卤素主要包括氟(F)、氯(Cl)、溴(Br)、碘(I),被广泛应用于电子产品.卤素被列为会对人类建康和环境造成严重危害的化学品,因此卤素化合物禁止或限量使用,在RoHS(欧盟关于在电器电子设备中禁止使用某些有毒有害物质指集令)中明确规定溴、氯含量分别小于0.09％,且溴与氯的含量总和小于0.15％.文章重点介绍了目前几种应用于PCB板表面OSP膜卤素含量测定的方法——能谱分析(EDX)、X-射线荧光光谱分析(XRF)和离子色谱分析(IC)并对比其优缺点;同时,运用上述方法进行PCB板表面OSP膜卤素含量的测试并对结果进行了对比;明确各测试方法对测试结果的差异性;并按照Rohs法规对卤素含量的定义;建议表征PCB板上OSP膜卤素含量的最佳方法.

摘要： 继无铅制程后,无卤素绿色电子产业受到电子行业广泛关注.卤素主要包括氟(F)、氯(Cl)、溴(Br)、碘(I),被广泛应用于电子产品.卤素被列为会对人类建康和环境造成严重危害的化学品,因此卤素化合物禁止或限量使用,在RoHS(欧盟关于在电器电子设备中禁止使用某些有毒有害物质指集令)中明确规定溴、氯含量分别小于0.09％,且溴与氯的含量总和小于0.15％.文章重点介绍了目前几种应用于PCB板表面OSP膜卤素含量测定的方法——能谱分析(EDX)、X-射线荧光光谱分析(XRF)和离子色谱分析(IC)并对比其优缺点;同时,运用上述方法进行PCB板表面OSP膜卤素含量的测试并对结果进行了对比;明确各测试方法对测试结果的差异性;并按照Rohs法规对卤素含量的定义;建议表征PCB板上OSP膜卤素含量的最佳方法.

摘要： 本发明涉及一种含镀层贵金属成分的X射线荧光光谱分析方法，其分析的待测物由基体和包覆于基体外的镀层组成，所述基体的主要成分为贵金属；包括以下步骤：S1、利用X射线荧光光谱实测待测物基体组成元素的荧光测定强度I3，根据测得的元素信息设定基体组成元素的初始含量Wn；S2、根据基体组成元素的初始含量Wn，基于有镀层测试条件计算基体组成元素的荧光理论强度I4，所述有镀层测试条件为引入镀层密度、镀层厚度和镀层质量来修正镀层组成元素对基体组成元素的吸收影响；S3、根据基体组成元素的荧光理论强度I4，采用基本参数法计算出基体组成元素的实际含量。

摘要： 本发明公开了一种基于X射线荧光光谱分析的水产品质量检测方法，能避免了现有技术对检测样品的前期消解的复杂处理且用酸过度造成污染的不足，具有准确快速、灵敏简便的特点。利用X射线荧光光谱仪测定待测水产品组织压片，得到待测组织能谱先进行基体效应校正，并测定不同硒含量的标准组织压片建立标准能谱含量关系式，计算谱线趋变序列对校正组织能谱进行复合谱解析，最后得到解析组织能谱强度，从而获得待测水产品中的硒元素含量；进一步判断其硒含量是否在范围标准内，避免了谱线重合对硒元素特征峰测定的能谱干扰，提高了对水产品中硒元素含量的检测精度和灵敏度，达到检测富硒水产品是否质量达标的目的。

摘要： 本发明公开了一种基于X射线荧光光谱分析的水体重金属半定量分析方法。该方法为：a)用待测重金属标准溶液绘制校准曲线；b)用水样采集器采集水样；c)用XRF光谱分析仪分析步骤b)采集的样品；用步骤a)得到的校准曲线对步骤c)测得的数值进行校准得到水样重金属含量。该方法通过使用水样采集器将水样吸附到固体吸附剂滤纸上，再用XRF仪检测附着在滤纸上的重金属，由此实现了对水体中重金属的快速简便测定，为环境监测提供了快速有效的检测手段。该方法适用于一定浓度范围内的多种重金属如汞、铅、铬、镍、砷等污染水样的检测。该方法基于XRF方法，其分析灵敏度受到XRF仪的影响，使用该方法前需用标准溶液进行校准。

摘要： 本发明提供了一种基于数字多道脉冲幅度分析的X射线荧光光谱分析法，包括以下步骤：a）对试样进行测试，得到未经处理的光谱信号；以及b)对所述光谱信号进行幅度分析，以得到经过基线恢复处理后的光谱，所述幅度分析方法具体包括：1）输入未经处理的光谱信号；2）对所述未经处理的光谱信号进行滤波，得到梯形滤波；以及3）对滤波后的信号的进行基线恢复，并基于恢复后的基线进行峰识别，其中，在所述基线恢复中实时地采集基线上的多个点值进行平均值处理，所述多个点为1024~16384个点。根据本发明实施例的基于数字多道脉冲幅度分析的X射线荧光光谱分析法，通过对基线进行实时恢复，从而能够达到稳定测量的目的。

摘要： 本发明公开了一种用于X射线荧光光谱分析硅铁合金成分的分析方法，其中的制样方法为：选择合适的氧化剂；在铂金坩埚中加熔剂，将铂金坩埚放入高温炉中，熔剂高温熔融，制成熔剂打底挂壁的熔剂坩埚；将硅铁合金测试样品、熔剂和氧化剂混合后，倒入熔剂坩埚中，上面覆盖一定量的混合熔剂；将装有硅铁合金测试样品、熔剂、氧化剂和混合熔剂的熔剂坩埚放入高温炉中，先在低温下预氧化，然后移入高温区，高温熔融制成用于X射线荧光光谱分析的硅铁合金测试样品玻璃样片。上述技术方案使得制成的玻璃样片中元素分布均匀，无颗粒效应，可长期保存；操作方法简单、安全、样片制备时间短，实现了同时进行硅铁合金中主次量元素的快速准确的测定。

摘要： 本发明公开了一种基于X射线荧光光谱分析的水产品质量检测方法，能避免了现有技术对检测样品的前期消解的复杂处理且用酸过度造成污染的不足，具有准确快速、灵敏简便的特点。利用X射线荧光光谱仪测定待测水产品组织压片，得到待测组织能谱先进行基体效应校正，并测定不同硒含量的标准组织压片建立标准能谱含量关系式，计算谱线趋变序列对校正组织能谱进行复合谱解析，最后得到解析组织能谱强度，从而获得待测水产品中的硒元素含量；进一步判断其硒含量是否在范围标准内，避免了谱线重合对硒元素特征峰测定的能谱干扰，提高了对水产品中硒元素含量的检测精度和灵敏度，达到检测富硒水产品是否质量达标的目的。

摘要： 本实用新型提供了一种X射线光管限束器自动切换装置和X射线荧光光谱分析仪。该X射线光管限束器自动切换装置包括：准直器模组，包括多个准直器；滤光片模组，包括多个滤光片；第一驱动单元，用于驱动准直器模组中的多个准直器运动；第二驱动单元，用于驱动滤光片模组中的多个滤光片运动；多个第一位置传感器，用于在检测到准直器模组中的准直器到达预定的测试位置时发出准直器到位信号；多个第二位置传感器，用于在检测到滤光片模组中的滤光片到达测试位置时发出滤光片到位信号；控制器，用于根据准直器到位信号控制第一驱动单元将多个准直器中选定的准直器移动到测试位置。本实用新型可实现连续测试，提高了样品测试的效率和自动化程度。

摘要： 本实用新型公开了一种双通道X射线荧光光谱分析仪，涉及荧光光谱分析设备技术领域。包括供烟丝燃烧的样品仓和连通样品仓的用以供烟气流动通过的检测通道；还包括设置在检测通道上方的用以向检测通道内的烟气发射一次X射线的X射线光源，以及接收烟气内重金属元素发射的二次X射线的检测传感器；所述检测通道包括并排设置的第一检测通道和第二检测通道；所述第一检测通道和第二检测通道均设置为镶嵌石英管，以使得X射线同时穿透第一检测通道和第二检测通道照射到烟气凝胶上。本实用新型通过设置双通道检测结构，配合自校正检测算法，可准确检测出烟气内的重金属种类以及含量，提高检出率，实用性高。

摘要： 本实用新型公开了一种手持式X射线荧光光谱分析仪测试样品杯，属于X射线荧光光谱分析仪辅助设备技术领域。测试样品杯包括：压环、套管、底座、扣盖、检测薄膜，所述检测套管套于所述检测薄膜外，所述检测薄膜上开口端使用所述压环固定于所述压环内压边和所述套管内壁之间，所述检测薄膜封口端和所述套管插入所述底座小口端至环形承台，所述检测薄膜封闭端外延边夹设于所述套筒和所述底座小口端之间，所述扣盖盖于所述压环上。该装置结构简单，易于操作，避免套管内壁受到污染，降低样品受污染的概率，提高了样品测试效率和精度，同时增加了测试样品杯的放置稳定性。

摘要： 一种X射线荧光光谱分析玻璃熔片的冷却装置，涉及冷却装置领域。该X射线荧光光谱分析玻璃熔片的冷却装置包括顶面设有容纳槽的底座及一侧与底座侧部铰接的盖板，容纳槽内设有散热板，盖板转动时开闭容纳槽，盖板靠近容纳槽的一侧表面设有至少一个散热风扇，容纳槽内设有温度传感器，底座的一端外壁设有用于显示温度传感器检测温度的显示屏。本实施例提供的X射线荧光光谱分析玻璃熔片的冷却装置能够快速冷却玻璃熔片，并避免玻璃熔片受到外部污染。