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GaN单晶衬底以及GaN单晶衬底的制造方法

摘要

本发明提供一种能够提高元件的成品率的GaN自支撑衬底及GaN自支撑衬底的制造方法。本发明涉及的GaN单晶具备衬底表面和包含在衬底表面上的极性反转区,极性反转区在衬底表面上的个数密度为20cm-2以下。

著录项

  • 公开/公告号CN101404248B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-08-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 日立电线株式会社;

    申请/专利号CN200810100724.8

  • 发明设计人 大岛佑一;柴田真佐知;

    申请日2008-05-20

  • 分类号H01L21/205(20060101);H01L33/00(20060101);C30B29/40(20060101);C30B25/02(20060101);C30B25/16(20060101);

  • 代理机构11243 北京银龙知识产权代理有限公司;

  • 代理人钟晶

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2022-08-23 09:05:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-03-30

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/205 登记生效日:20160310 变更前: 变更后: 申请日:20080520

    专利申请权、专利权的转移

  • 2015-09-02

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/205 变更前: 变更后: 登记生效日:20150813 申请日:20080520

    专利申请权、专利权的转移

  • 2015-01-07

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/205 变更前: 变更后: 登记生效日:20141222 申请日:20080520

    专利申请权、专利权的转移

  • 2010-08-18

    授权

    授权

  • 2009-06-03

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-04-08

    公开

    公开

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