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基于自动矢量生成技术的复杂微处理器测试方法

摘要

本发明公开了一种基于自动矢量生成技术的复杂微处理器测试方法。该方法采用微处理器集成开发工具为测试模型产生可执行模块,并通过自动矢量生成技术产生完备的测试矢量集。测试矢量集包含IEEE1149.1协议,实现在线下载测试代码到被测微处理器并实现仿真控制的功能。依赖于微处理器的不同特点,测试矢量能建立自动测试设备和被测微处理器之间的通信链路,同步调用子程序与测试矢量,实现微处理器的功能测试。微处理器集成开发工具根据被测参数和测试模型生成参数测试步长表,实现微处理器的参数测试。本发明有效减少了微处理器测试的操作环节,降低微处理器的批量生产测试的测试成本。

著录项

  • 公开/公告号CN103678075B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-04-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京自动测试技术研究所;

    申请/专利号CN201310741944.X

  • 申请日2013-12-27

  • 分类号

  • 代理机构北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人陈曦

  • 地址 100088 北京市海淀区北三环中路31号

  • 入库时间 2022-08-23 10:09:03

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-04-06

    授权

    授权

  • 2016-03-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F11/26 申请日:20131227

    实质审查的生效

  • 2014-03-26

    公开

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