首页> 中国专利> 一种用于分析大尺寸试样组织的电子探针样品台

一种用于分析大尺寸试样组织的电子探针样品台

摘要

本实用新型公开了一种用于分析大尺寸试样组织的电子探针样品台,包括底座,所述底座的一侧设置有转轴,所述转轴的一侧延伸至底座的内部,所述底座内部的两侧对称设置有安装槽,所述底座顶部的两侧对称设置有安装板,所述安装板的底部设置有齿条,且齿条位于安装槽的内部,所述转轴外侧的两侧对称设置有齿轮,所述齿轮与齿条相互啮合,所述安装板的一侧均匀设置有多组横版,所述横版的顶部设置有安装仓,所述安装仓内部的顶部设置有弹簧C;本实用新型通过转轴、齿条、齿轮的配合下,能够对放置板上放置的样本高度进行微调,使其调整到最合适的高度,提高检测时的精度,降低误差的产生。

著录项

  • 公开/公告号CN214408749U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2021-10-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉微束检测科技有限公司;

    申请/专利号CN202120480542.9

  • 发明设计人 曹振辉;

    申请日2021-03-06

  • 分类号G01N23/02(20060101);

  • 代理机构42276 湖北创融蓝图知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人羊淑梅

  • 地址 430079 湖北省武汉市洪山区东湖新技术开发区关山二路特1号国际企业中心3栋1层01室-4

  • 入库时间 2022-08-23 00:59:51

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号